產(chǎn)品分類
Product CategoryChroma致茂 9102安規(guī)校正器測(cè)試校準(zhǔn)儀,具多種模擬負(fù)載,適用多種安規(guī)測(cè)量參數(shù)之校正使用。包含AC/DC電壓、電流、接地電阻、絕緣電阻等,大幅減低工廠安規(guī)測(cè)試設(shè)備之定期校驗(yàn)費(fèi)用。
Chroma 19301A繞線元件脈沖測(cè)試儀器,結(jié)合了高低感量測(cè)試技術(shù)應(yīng)用,擁有1000Vdc脈沖電壓與200MHz高速取樣率,可提供0.1uH~1mH大范圍感量產(chǎn)品測(cè)試滿足絕大部份功率電感測(cè)試需求,擁有波形面積比較(Area Size)、波形面積差比較(Differential Area)、波形顫動(dòng)偵測(cè)(Flutter)、波形二階微分偵測(cè)(Laplacian)、波峰降比偵測(cè)(APea
Chroma 19200電氣安規(guī)多點(diǎn)掃描測(cè)試儀設(shè)備產(chǎn)品特色 ·支持電氣安規(guī)測(cè)試掃描功能: 。AC/DC耐壓測(cè)試 。 IR絕緣阻抗測(cè)試 。GB接地電阻測(cè)試 。 ELC對(duì)地動(dòng)態(tài)漏電流 。 ECLC外殼動(dòng)態(tài)漏電流 。PLC病患動(dòng)態(tài)漏電流 。 PALC病患從屬漏電流
Chroma 19032/19032-P電氣安規(guī)測(cè)試分析儀結(jié)合耐壓測(cè)試(Hi-Pot)、絕緣電阻測(cè)試(IR)、接地連接測(cè)試(GB)、動(dòng)態(tài)泄漏電流測(cè)試(LC/LAC/LDC)以及動(dòng)態(tài)功能測(cè)試(Function Test)。Chroma 19032讓您不須購(gòu)買多臺(tái)耐壓測(cè)試器,減少產(chǎn)線50%的空間浪費(fèi),單次排程掃描測(cè)試,提升產(chǎn)在線電氣安規(guī)測(cè)試的效率,減少測(cè)試風(fēng)險(xiǎn)。
致茂Chroma 19070 Series耐壓安規(guī)測(cè)試儀系列為世界體積最小的的綜合耐壓測(cè)試器,超小型體積攜帶方便,大型LCD顯示器,易于觀看量測(cè)結(jié)果,適用于電子零件之安規(guī)測(cè)試,為精致型耐壓測(cè)試器。
Chroma/致茂 19056/19057 Series耐壓測(cè)試分析儀產(chǎn)品特色 ·10kV AC & 20kV DC耐壓測(cè)試 ·0.1MΩ~50GΩ絕緣電阻測(cè)試 ·BDV崩潰電壓測(cè)試功能 ·電氣閃絡(luò)檢測(cè) ·HVCC高壓接觸檢查 ·HFCC高頻接觸檢查 ·OSC開短路偵測(cè) ·GFI人體保護(hù)電路 ·快速充放電功能
Chroma致茂 19501局部放電測(cè)試器設(shè)備產(chǎn)品特色: ·交流高壓輸出&PD量測(cè)與主機(jī)分離式設(shè)計(jì) ·內(nèi)建法規(guī)測(cè)試要求的測(cè)試方法 ·三段電壓測(cè)試方法 ·PD測(cè)量結(jié)果數(shù)值顯示(pC) ·PD不良發(fā)生次數(shù)判定設(shè)定(1~10) ·USB畫面擷取功能 ·圖像化輔助編輯功能 ·標(biāo)準(zhǔn)LAN、USB、RS232遠(yuǎn)端控制接口 ·繁中/簡(jiǎn)中/英文操作接口
Chroma致茂 19501-K局部放電測(cè)試器產(chǎn)品特色: ·單機(jī)內(nèi)建交流耐壓測(cè)試與局部放電偵測(cè)功能 ·可程式交流耐壓輸出0.1kVac~10kVac ·高精度及高解析度電流表0.01μA~300μA ·局部放電(PD)偵測(cè)范圍1pC~2000pC ·高壓接觸檢查功能(HVCC) ·符合IEC60747-5-5、VDE0884、IEC 60270法規(guī)測(cè)試要求
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